膜厚仪/腊厚分析仪器-麻花天美

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增骏XAD-200膜厚仪 X射线荧光测厚仪

增骏XAD-200膜厚仪 X射线荧光测厚仪是一款全元素上照式荧光光谱仪，既保留了专用测厚仪检测微小样品和凹槽的膜厚性能，又可满足RoHS有害元素检测及成分分析，搭载全自动平台实现XYZ轴编程位移，实现无人值守多点测量，测量软件置入先进的EFP算法及解谱技术，解决了诸多业界难题。被广泛用于各类产物的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。

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更新日期
2024-10-18

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厂商性质
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更新日期
2024-10-18

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厂商性质
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633
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更新日期
2024-10-18

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2024-10-18

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增骏齿顿-1000新型膜厚仪/膜厚分析仪

增骏齿顿-1000新型膜厚仪/膜厚分析仪采用上照式光谱测厚仪，对各类镀层厚度分析的同时可对电镀液进行分析，适用于各种超大件、异形凹槽件、密集型多点测试或自动逐个检测大量的小部件。

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2024-10-18

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